 集成電路（IC）版圖設(shè)計培訓(xùn)班 |
| 課程目標(biāo) |
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IC設(shè)計培訓(xùn)課程可以讓學(xué)員深入了解復(fù)雜芯片的基本模塊建立，把握時序的計算及其調(diào)整，
掌握DFT的概念和重要性及其實際應(yīng)用，了解后端的芯片流片過程以及影響芯片性能的各種因數(shù)，掌握如何提高整個芯片設(shè)計的成功率和高性能，能夠獨立完成各個流程的設(shè)計，并大幅度提高個人在IC設(shè)計各個環(huán)節(jié)中的設(shè)計能力。 |
| 培養(yǎng)對象 |
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專注于IC設(shè)計領(lǐng)域的人和希望了解整個IC設(shè)計流程的工程師，即將介入IC
設(shè)計領(lǐng)域的畢業(yè)生，即將轉(zhuǎn)為從事半導(dǎo)體工作的人員,已經(jīng)從事IC設(shè)計，如概念工程師，設(shè)計工程師，布線工程師，測試工程師,應(yīng)用工程師，IC芯片設(shè)計項目經(jīng)理。 |
| 入學(xué)要求 |
學(xué)員學(xué)習(xí)本課程應(yīng)具備下列基礎(chǔ)知識：
◆電路系統(tǒng)的基本概念。 |
| 班級規(guī)模及環(huán)境 |
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為了保證培訓(xùn)效果，增加互動環(huán)節(jié)，我們堅持小班授課，每期報名人數(shù)限3到5人，多余人員安排到下一期進行。 |
| 上課時間和地點 |
上課地點：【上�！浚和瑵髮W(xué)(滬西)/新城金郡商務(wù)樓(11號線白銀路站) 【深圳分部】：電影大廈(地鐵一號線大劇院站)/深圳大學(xué)成教院 【北京分部】：北京中山學(xué)院/福鑫大樓 【南京分部】：金港大廈(和燕路) 【武漢分部】：佳源大廈（高新二路） 【成都分部】：領(lǐng)館區(qū)1號（中和大道） 【沈陽分部】：沈陽理工大學(xué)/六宅臻品 【鄭州分部】：鄭州大學(xué)/錦華大廈 【石家莊分部】：河北科技大學(xué)/瑞景大廈
最近開課時間(周末班/連續(xù)班/晚班）：集成電路版圖設(shè)計初級班：2025年9月15日..資深工程師授課.....直播、現(xiàn)場培訓(xùn)皆可....用心服務(wù).......... |
| 學(xué)時 |
◆請咨詢客服
◆外地學(xué)員：代理安排食宿（需提前預(yù)定）
☆注重質(zhì)量
☆邊講邊練
☆合格學(xué)員免費推薦工作
☆合格學(xué)員免費頒發(fā)相關(guān)工程師等資格證書，提升您的職業(yè)資質(zhì)
專注高端培訓(xùn)15年，曙海提供的證書得到本行業(yè)的廣泛認可，學(xué)員的能力
得到大家的認同，受到用人單位的廣泛贊譽。
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| 最新優(yōu)惠 |
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◆團體報名優(yōu)惠措施：兩人95折優(yōu)惠，三人或三人以上9折優(yōu)惠 |
| 質(zhì)量保障 |
1、培訓(xùn)過程中，如有部分內(nèi)容理解不透或消化不好，可免費在以后培訓(xùn)班中重聽；
2、培訓(xùn)結(jié)束后免費提供半年的技術(shù)支持，充分保證培訓(xùn)后出效果；
3、培訓(xùn)合格學(xué)員可享受免費推薦就業(yè)機會。 ☆合格學(xué)員免費頒發(fā)相關(guān)工程師等資格證書，提升您的職業(yè)資質(zhì)。專注高端培訓(xùn)13年，曙海提供的證書得到本行業(yè)的廣泛認可，學(xué)員的能力得到大家的認同，受到用人單位的廣泛贊譽。 |
| 集成電路（IC）版圖設(shè)計培訓(xùn)班 |
| 課程進度安排 |
| 課程大綱 |
第一階段 |
第一章
設(shè)計基礎(chǔ)
1.1
開課前的能力測試評估
1.2
半導(dǎo)體的基本介紹及其發(fā)展前景 |
第二章
半導(dǎo)體特性
2.1
MOS電子晶體管的操作原理
2.2
COMS反向器 DC 和 AC
的轉(zhuǎn)換特性
2.3 半導(dǎo)體存儲器特性－ROM,
SRAM, DRAM,OTP, EEPROM,
FLASH
2.4 IC設(shè)計指導(dǎo) |
第二階段 |
第三章
IC設(shè)計流程
3.1
RTL功能模塊的建立
3.1.1
代碼的設(shè)計
3.1.2
代碼的綜合，包括綜合參數(shù)的設(shè)置，電壓，頻率，溫度
3.1.3
靜態(tài)時鐘分析
3.1.4
布局布線
3.1.5
動態(tài)時序分析
3.1.6
布線驗證
3.2
封裝流片 |
第四章
IC可靠性分析
4.1
COMS的制作工藝
4.2 IC
設(shè)計功耗和封裝的關(guān)系，封裝的趨勢
4.3 IC
的可靠性分析
4.3.1
ESD靜電防范措施
4.3.2
電子漂移對設(shè)計的影響
4.3.3
可靠性能的測試－HTOL,HAST,THB,PCT, TC
第五章 DFT (Design For
Test)分析
5.1 DFT
介紹
5.2 DFT Nandtree
測試及其優(yōu)點
5.3 DFT IDDQ
靜態(tài)電流測試的原理及其作用
5.4 DFT
基本模擬測試
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第三階段 |
第5章
DFT高級部分
5.5 DFT
– 掃描測試的原理及其步驟
5.6
DFT – 存儲器的自動測試模塊 |
第5章
DFT
5.7 DFT -
節(jié)點邊界掃描及功能測試
第6章
總結(jié)
6.1 IC
設(shè)計的成本計算和收支平衡計算
6.2
半導(dǎo)體的工藝挑戰(zhàn)和趨勢
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